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電阻率測(cè)試儀你知道是什么嗎？
點(diǎn)擊次數(shù)：1856 更新時(shí)間：2022-04-21
電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)，表面比電阻的大小可間接反映試驗(yàn)材料表面靜電泄漏時(shí)間的長(zhǎng)短，從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電性能。采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試，其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高阻計(jì)兩部分組成。基本原理是對(duì)試樣加入不同擋位的直流電壓，流經(jīng)試樣的微弱電流用標(biāo)準(zhǔn)電阻取樣放大后，從高阻計(jì)上讀出。數(shù)字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便。
根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。
電阻率測(cè)試儀的特性局部放電測(cè)量：
通常以局部放電儀測(cè)量引起固體絕緣破壞的局部放電。這種局部放電的存在形式大致有：在電極附近的沿介質(zhì)表面的放電；層壓材料中界面間的放電；固體絕緣中空穴內(nèi)的放電；層繞絕緣中的樹枝狀放電等。這些局部放電的起因，可能是絕緣材料中存在先天性缺陷，也可能是制造工藝不完善，當(dāng)電壓施加到絕緣結(jié)構(gòu)上時(shí)，缺陷部分電場(chǎng)超過臨界值。局部放電的初期階段范圍很小，損耗很小。測(cè)量絕緣電阻或介質(zhì)損耗角均難以發(fā)現(xiàn)異常。
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